跌落测试

[项目介绍]  

跌落试验通常是主要用来模拟未包装/包装的产品在搬运期间可能受到的自由跌落，考察产品抗意外冲击的能力。通常跌落高度大都根据产品重量以及可能掉落机率做为参考标准，落下表面应该是混凝土或钢制成的平滑、坚硬的刚性表面（如有特殊要求应以产品规格或客户测试规范来决定）。

跌落试验对于不同国际规范即使产品在相同重量下但掉落高度也不相同，对于手持型产品(如手机, MP3等)大多数掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC对于≦2kg之手持型产品建议应满足100cm之掉落高度不可损坏，MIL则建议掉落高度为122cm，Intel对手持型产品(如手机）则建议落下高度为150cm。试验的严苛程度取决于跌落高度、跌落次数、跌落方向。

[业务范围]

1.计算机类：电脑、显示屏、主机、电脑元器件、医疗设备等精密仪器等跌落试验。

2.电子通信类：手机、射频器、电子通信元器件等跌落试验。

3.电器类：家电、灯具、变电器等各类家电电器设备跌落试验；

4.其他：包装箱、运输设备等跌落试验。

[测试参考标准]  

ISTA，IEC60068-2-32，GB/T4857.5等。

GB/T2423.8-1995 / IDT IEC 60068-2-32：1990  电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验Ed：自由跌落 方法一：自由跌落

GJB360B-2009  电子及电气元件试验方法 方法 203 随机跌落试验

GMW3172-2012  电气－电子元件通用规范－环境/耐久性  9.3.10自由跌落

VW80000  3.5吨以下汽车电气和电子部件试验项目、试验条件和试验要求8.1自由落体试验