先进材料表征分析

项目简介

利用电子、光子、离子、原子、强电场、热能等与固体表面的相互作用，测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图像，表征材料表面微观形貌、表面粗糙度、表面微区成分、表面组织结构、表面相结构、表面镀层结构及成分等相关参数，X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。

业务优势

1.分析速度快，通常每个元素分析测量时间在2～lOOs之内即可完成。

2.非破坏性，X射线荧光分析对样品是非破坏性测定，使得其在一些特殊测试、贵重物品的测试中独显优势。

3.分析样品范围广，可以对元素周期表上的多种元素进行分析，并可直接测试各种形态的样品。

4.分析样品浓度范围宽，可分析含量在0.0001%～100%宽范同内的组分含量。

5.分析精度高、重现性好。

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